Vai al contenuto principale della pagina
Autore: | Celano, Umberto |
Titolo: | Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices : Doctoral Thesis accepted by the KU Leuven and IMEC, Belgium / Umberto Celano |
Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2016 |
Titolo uniforme: | Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices |
Descrizione fisica: | xxiv, 175 p. : ill. ; 24 cm |
Soggetto topico: | 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] |
78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] | |
Soggetto non controllato: | 3D Metrology |
AFM Tomography | |
C-AFM | |
Conductive Bridging Memory CBRAM | |
Conductive Filaments | |
Ionic Devices | |
RRAM | |
Resistive Switching | |
Scalpel SPM | |
Titolo autorizzato: | Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN00164428 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-319-39531-9 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |