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Autore: |
Voigtländer, Bert
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Titolo: |
Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer
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Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2019 |
Descrizione fisica: | XIV, 331 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina: | 543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica) |
530(Fisica) | |
502.82(Microscopia) | |
620.5(Nanotecnologia) | |
621.39(Microingegneria) | |
570.28(Microscopia biologica) | |
Titolo autorizzato: | Atomic Force Microscopy ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN00126214 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | /sebina/repository/catalogazione/documenti/377.pdf |
https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-030-13654-3 | |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |