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Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer



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Autore: Voigtländer, Bert Visualizza persona
Titolo: Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer Visualizza cluster
Pubblicazione: Cham, : Springer, 2019
Descrizione fisica: XIV, 331 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina: 543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica)
530(Fisica)
502.82(Microscopia)
620.5(Nanotecnologia)
621.39(Microingegneria)
570.28(Microscopia biologica)
Titolo autorizzato: Atomic Force Microscopy  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: VAN00126214
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Localizzazioni e accesso elettronico /sebina/repository/catalogazione/documenti/377.pdf
https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-030-13654-3
Opac: Controlla la disponibilità qui
Serie: NanoScience and Technology Berlin . -Springer , 1998-