Vai al contenuto principale della pagina
Titolo: | Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.] |
Pubblicazione: | New York, : Springer, 2018 |
Descrizione fisica: | XXIII, 550 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina: | 543.65(Spettrometria di massa. Spettroscopia di massa) |
620.1(Scienze dei materiali) | |
570.28(Microscopia biologica) | |
Persona (resp. second.): | Goldstein, Joseph I. |
Titolo autorizzato: | Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN00124913 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4939-6676-9 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |