.. East-West Design and Test Symposium
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
.. East-West Design and Test Symposium
|
| Pubblicazione: | Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc |
| Disciplina: | 621.38195 |
| Soggetto topico: | Computer engineering |
| Electronic circuit design | |
| Electronic circuits - Testing | |
| Electronic digital computers - Circuits - Testing | |
| Integrated circuits - Testing | |
| Soggetto genere / forma: | Periodicals. |
| Conference papers and proceedings. | |
| ISSN: | 2472-761X |
| Titolo abbreviato (Periodici): | East-West Des. Test Symp |
| Altri titoli varianti: | EWDTS .. |
| Proceedings | |
| Proceedings of IEEE East-West Disign & Test Symposium | |
| Proceedings of IEEE East-West Disign and Test Symposium | |
| IEEE East-West Design & Test International Symposium | |
| Titolo autorizzato: | . East-West Design and Test Symposium |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910626115703321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |