Proceedings : Thirteenth IEEE European Test Symposium : ETS 2008, 25-29 May 2008, Verbania, Italy
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
Proceedings : Thirteenth IEEE European Test Symposium : ETS 2008, 25-29 May 2008, Verbania, Italy
|
| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : Conference Pub Services, 2008 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Testing |
| Electrical Engineering | |
| Electrical & Computer Engineering | |
| Engineering & Applied Sciences | |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | Proceedings : Thirteenth IEEE European Test Symposium : ETS 2008, 25-29 May 2008, Verbania, Italy |
| ISBN: | 9781509083619 |
| 1509083618 | |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910145676903321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |