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Titolo: |
Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems / Youichi Murakami, Sumio Ishihara editors
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Pubblicazione: | Berlin ; Heidelberg, : Springer, 2017 |
Titolo uniforme: | Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems |
Descrizione fisica: | vii, 241 p. : ill. ; 24 cm |
Soggetto topico: | 78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] |
78A45 - Diffraction, scattering [MSC 2020] | |
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] | |
82D03 - Statistical mechanical studies in condensed matter (general) [MSC 2020] | |
Soggetto non controllato: | Orbital Ordering |
Resonant X-ray Scattering | |
Scattering Transition Metal Oxides | |
Strongly Correlated Electron Systems | |
X-ray Diffraction | |
X-ray Scattering Oxides | |
Persona (resp. second.): | Ishihara, Sumio |
Murakami, Youichi | |
Titolo autorizzato: | Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN0181016 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-662-53227-0 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |