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Autore: | Kay, Nicholas D. |
Titolo: | Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach : Doctoral Thesis accepted by Lancaster University, Lancashire, England / Nicholas D. Kay |
Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2018 |
Titolo uniforme: | Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals |
Descrizione fisica: | xxi, 122 p. : ill. ; 24 cm |
Soggetto topico: | 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] |
74A50 - Structured surfaces and interfaces, coexistent phases [MSC 2020] | |
74K35 - Thin films [MSC 2020] | |
Soggetto non controllato: | 2D Crystals |
2D Nanoelectromechanical Properties | |
Atomic Force Microscopy | |
Heterodyne Force Microscopy | |
Nano Electromechanical Resonator | |
Nano-Mechanics | |
Nanoelectromechanical Properties of 2D Materials | |
Subsurface Mechanical Properties | |
Ultrasonic Force Microscopy | |
Titolo autorizzato: | Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN00211460 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-319-70181-3 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |