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2018 IEEE 27th North Atlantic Test Workshop : 7-9 May 2018, Essex, VT, USA / / Institute of Electrical and Electronics Engineers



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Titolo: 2018 IEEE 27th North Atlantic Test Workshop : 7-9 May 2018, Essex, VT, USA / / Institute of Electrical and Electronics Engineers Visualizza cluster
Pubblicazione: Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018
Descrizione fisica: 1 online resource (11 pages)
Disciplina: 004.16
Soggetto topico: Embedded computer systems
Random access memory
Systems on a chip - Testing
Titolo autorizzato: 2018 IEEE 27th North Atlantic Test Workshop  Visualizza cluster
ISBN: 1-5386-6400-3
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996280697003316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui