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Autore: | Gladden Warren K |
Titolo: | Automatic determination of the interstitial oxygen content of silicon wafers polished on both sides / / Warren K. Gladden, Stephen R. Slaughter, Walter M. Duncan, Aslan Baghdadi |
Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1988 |
Descrizione fisica: | 1 online resource |
Altri autori: | BaghdadiA DuncanWalter M GladdenWarren K SlaughterStephen R |
Note generali: | 1988. |
Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes. | |
Title from PDF title page. | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
Titolo autorizzato: | Automatic determination of the interstitial oxygen content of silicon wafers polished on both sides |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910711193003321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |