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2009 15th IEEE International on-Line Testing Symposium



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Titolo: 2009 15th IEEE International on-Line Testing Symposium Visualizza cluster
Pubblicazione: [Place of publication not identified], : IEEE, 2009
Descrizione fisica: 1 online resource
Disciplina: 621.381548
Soggetto topico: Electronic circuits - Testing - Data processing
Error-correcting codes (Information theory)
Persona (resp. second.): IEEE Staff
Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Titolo autorizzato: 2009 15th IEEE International on-Line Testing Symposium  Visualizza cluster
ISBN: 9781424448227
1424448220
9781424445950
1424445957
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910140043303321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui