IEEE No 300-1969 (USAS N42.1-1969) : USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Titolo: |
IEEE No 300-1969 (USAS N42.1-1969) : USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Pubblicazione: | New York : , : IEEE, , 1968 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (34 pages) |
| Disciplina: | 539.2 |
| Soggetto topico: | Ionizing radiation |
| Altri titoli varianti: | 300-1969 - USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors |
| USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors | |
| IEEE No 300-1969 | |
| Titolo autorizzato: | IEEE No 300-1969 (USAS N42.1-1969) |
| ISBN: | 1-5044-0275-8 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910136273203321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |