Biometrics and Identity Management [Risorsa elettronica] : First European Workshop, BIOID 2008, Roskilde, Denmark, May 7-9, 2008. Revised Selected Papers / edited by David Hutchison, Takeo Kanade, Josef Kittler, Jon M. Kleinberg, Friedemann Mattern, John C. Mitchell, Moni Naor, Oscar Nierstrasz, C. Pandu Rangan, Bernhard Steffen, Madhu Sudan, Demetri Terzopoulos, Doug Tygar, Moshe Y. Vardi, Gerhard Weikum, Ben Schouten, Niels Christian Juul, Andrzej Drygajlo, Massimo Tistarelli

• Pubblicazione: Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008
• Persona (resp. second.): Drygajlo, Andrzej; Hutchison, David; Juul, Niels Christian; Kanade, Takeo; Kittler, Josef; Kleinberg, Jon M.; Mattern, Friedemann; Mitchell, John C.; Naor, Moni; Nierstrasz, Oscar; Pandu Rangan, C.; Schouten, Ben; Steffen, Bernhard; Sudan, Madhu; Terzopoulos, Demetri; Tistarelli, Massimo; Tygar, Doug; Vardi, Moshe Y.; Weikum, Gerhard
• Type File/ Data Note: Formato html, pdf
• Requisiti sistema: Formato html, pdf
• Titolo autorizzato: Biometrics and Identity Management
• ISBN: 9783540899914
• Formato: Risorse elettroniche
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 990009258730403321
• Lo trovi qui: Univ. Federico II
• Localizzazioni e accesso elettronico: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-89991-4