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IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications : [proceedings]



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Titolo: IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications : [proceedings] Visualizza cluster
Pubblicazione: Piscataway, N.J., : Institute of Electrical and Electronics Engineers
Disciplina: 006
Soggetto topico: Computational intelligence - Industrial applications
Neural networks (Computer science)
Fuzzy systems
Soft computing
Automatic control - Data processing
Measurement
Informatique douce
Réseaux neuronaux (Informatique)
Mesure
Systèmes flous
Intelligence informatique - Applications industrielles
Commande automatique - Informatique
Soggetto genere / forma: Conference papers and proceedings.
ISSN: 2159-1555
Titolo abbreviato (Periodici): IEEE Int. Conf. Comput. Intell. Meas. Syst. Appli
Altri titoli varianti: International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications
Computational intelligence for measurement systems and applications
CIMSA proceedings
Titolo autorizzato: IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910626137103321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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