Vai al contenuto principale della pagina
Titolo: | Proceedings |
Pubblicazione: | Piscataway, NJ, : IEEE |
Disciplina: | 621.39 |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction |
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing | |
Integrated circuits - Fault tolerance | |
Soggetto genere / forma: | Conference papers and proceedings. |
ISSN: | 2162-061X |
Titolo abbreviato (Periodici): | Int. Des. Test Workshop |
Altri titoli varianti: | International Design and Test Workshop |
IDT | |
IEEE International Design and Test Workshop | |
Titolo autorizzato: | Proceedings |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Periodico |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910626010103321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |