Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization / Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel editors
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| Titolo: |
Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization / Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel editors
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2018 |
| Titolo uniforme: | Kelvin Probe Force Microscopy |
| Descrizione fisica: | xxiv, 521 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 74-XX - Mechanics of deformable solids [MSC 2020] |
| 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] | |
| 81V80 - Quantum optics [MSC 2020] | |
| 78A60 - Lasers, masers, optical bistability, nonlinear optics [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | Electrostatic Force Microscopy |
| Electrostatic field of a cantilever | |
| KPFM techniques for liquid environment | |
| KPFM with atomic resolution | |
| Kelvin spectroscopy of single molecules | |
| Scanning Kelvin Probe Microscopy | |
| Persona (resp. second.): | Glatzel, Thilo |
| Sadewasser, Sascha | |
| Titolo autorizzato: | Kelvin Probe Force Microscopy |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0211285 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-319-75687-5 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Springer Series in Surface Sciences Berlin [etc.] . -Springer ; 65