Debye Screening Length : Effects of Nanostructured Materials / Kamakhya Prasad Ghatak, Sitangshu Bhattacharya
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| Autore: |
Ghatak, Kamakhya P.
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| Titolo: |
Debye Screening Length : Effects of Nanostructured Materials / Kamakhya Prasad Ghatak, Sitangshu Bhattacharya
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2014 |
| Titolo uniforme: | Debye Screening Length |
| Descrizione fisica: | xxxiii, 385 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 82-XX - Statistical mechanics, structure of matter [MSC 2020] |
| 74-XX - Mechanics of deformable solids [MSC 2020] | |
| 82D37 - Statistical mechanical studies of semiconductors [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | Compound semiconductors |
| Debye Screening Length | |
| Inversion Layers | |
| Inversion Layers of Non-parabolic Semiconductors | |
| Low-Simensional Semiconductors | |
| NIPIS | |
| Quantized Optoelectronic Semiconductors | |
| Quantum Confinement | |
| Quantum Wells | |
| Altri autori: |
Bhattacharya, Sitangshu
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| Titolo autorizzato: | Debye Screening Length |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0132794 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-319-01339-8 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Springer Tracts in Modern Physics Berlin [etc.] . -Springer ; 255