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Titolo: | EXAFS spectroscopy, techniques and applications / edited by B. K. Teo and D. C. Joy |
Pubblicazione: | New York : Plenum Press, c1981 |
Descrizione fisica: | viii, 275 p. : ill. ; 26 cm |
Disciplina: | 543.6 |
Soggetto topico: | X-ray spectroscopy |
Absorption spectra | |
Extended x-ray absorption fine structure | |
Altri autori: | Teo, B. K. Joy, David C. |
Altri autori (Enti): | Materials Research Society |
Note generali: | "Based on proceedings of a symposium held at the meeting of the Materials Research Society, Nov. 26-30, 1979, in Boston". - t. p. verso |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references and index |
ISBN: | 0306406543 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 991001348509707536 |
Lo trovi qui: | Univ. del Salento |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |