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Titolo: |
Proceedings / / International Test Conference
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Pubblicazione: | [Silver Spring, Md.] : , : [IEEE Computer Society Press] |
Altoona, PA : , : International Test Conference | |
Washington, D.C. : , : International Test Conference | |
Disciplina: | 004 |
Soggetto topico: | Computer storage devices |
Integrated circuits - Testing | |
Semiconductor storage devices - Testing | |
Soggetto genere / forma: | Periodicals. |
Conference papers and proceedings. | |
ISSN: | 2378-2250 |
Note generali: | Some conferences also have distinctive titles. |
Published: Altoona, PA : International Test Conference, <1995-> | |
Titolo abbreviato (Periodici): | INTERNATIONAL TEST CONFERENCE PROCEEDINGS |
INTERNATIONAL TEST CONFERENCE | |
Proc | |
Altri titoli varianti: | International Test Conference |
ITC | |
IEEE ... Test Conference | |
IEEE International Test Conference | |
Proceedings of the International Test Conference | |
Titolo autorizzato: | Proceedings ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Periodico |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 996281107403316 |
Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |