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Titolo: | 2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan) |
Pubblicazione: | Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (309 pages) : illustrations |
Disciplina: | 621.3815 |
Soggetto topico: | Electronic circuits - Testing |
Electronic digital computers Circuits - Testing | |
Fault-tolerant computing | |
Altri titoli varianti: | Test Symposium |
Titolo autorizzato: | 2013 22nd Asian Test Symposium |
ISBN: | 0-7695-5080-0 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 996280213103316 |
Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |