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Titolo: | 2018 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : 19-22 March 2018, Austin, TX, USA / / IEEE Electron Devices Society |
Pubblicazione: | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (78 pages) |
Disciplina: | 621.381548 |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Testing |
Semiconductors - Testing | |
Electronic apparatus and appliances - Testing | |
Titolo autorizzato: | 2018 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures |
ISBN: | 1-5386-5071-1 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910280918003321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |