The Border Effect in High-Precision Measurement / Wei Zhou ... [et al.]

• Pubblicazione: Singapore, : Springer, 2023
• Descrizione fisica: xv, 378 p. : ill. ; 24 cm
• Soggetto topico: 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]; 93-XX - Systems theory; control [MSC 2020]
• Soggetto non controllato: Border Effect; Border Metrology; Digital Processing; Phase Processing; Quantization Error; Response Time; Time and Frequency
• Persona (resp. second.): Zhou, Wei
• Titolo autorizzato: Border Effect in High-Precision Measurement
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: VAN00285902
• Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
• Localizzazioni e accesso elettronico: https://doi.org/10.1007/978-981-10-3593-7