CMOS Test and Evaluation : A Physical Perspective / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen

• Autore: Bhushan, Manjul
• Pubblicazione: Cham, : Springer, 2015
• Descrizione fisica: xiii, 424 p. ; 24 cm
• Altri autori: Ketchen, Mark B.
• Titolo autorizzato: CMOS Test and Evaluation
• ISBN: 978-14-939134-8-0
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: VAN00108588
• Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
• Localizzazioni e accesso elettronico: http://link.springer.com/book/10.1007%2F978-1-4939-1349-7