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.. IEEE ... International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems



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Titolo: .. IEEE ... International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems Visualizza cluster
Pubblicazione: Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., 2009-
Disciplina: 621
Soggetto topico: Integrated circuits - Testing
Integrated circuits - Design
Soggetto genere / forma: Periodicals
Conference papers and proceedings.
ISSN: 2473-2117
Titolo abbreviato (Periodici): IEEE Int. Symp. Des. Diagn. Electron. Circuits Syst
Altri titoli varianti: DDECS ..
Proceedings of the IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems
Titolo autorizzato: . IEEE ... International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996581539203316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui