2008 International Conference on Advances in Electronics and Micro-electronics (ENICS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Titolo: |
2008 International Conference on Advances in Electronics and Micro-electronics (ENICS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Pubblicazione: | Valencia, Spain : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2008 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource |
| Disciplina: | 535 |
| Soggetto topico: | Quantum optics |
| Altri titoli varianti: | Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography |
| Titolo autorizzato: | 2008 International Conference on Advances in Electronics and Micro-electronics (ENICS) |
| ISBN: | 1-5090-7732-4 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 996575273903316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |