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Proceedings : Thirteenth IEEE European Test Symposium : ETS 2008, 25-29 May 2008, Verbania, Italy



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Titolo: Proceedings : Thirteenth IEEE European Test Symposium : ETS 2008, 25-29 May 2008, Verbania, Italy Visualizza cluster
Pubblicazione: [Place of publication not identified], : Conference Pub Services, 2008
Soggetto topico: Integrated circuits - Testing
Electrical Engineering
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Titolo autorizzato: Proceedings : Thirteenth IEEE European Test Symposium : ETS 2008, 25-29 May 2008, Verbania, Italy  Visualizza cluster
ISBN: 1-5090-8361-8
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996216634903316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui