Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems / Youichi Murakami, Sumio Ishihara editors
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| Titolo: |
Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems / Youichi Murakami, Sumio Ishihara editors
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| Pubblicazione: | Berlin ; Heidelberg, : Springer, 2017 |
| Titolo uniforme: | Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems |
| Descrizione fisica: | vii, 241 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] |
| 78A45 - Diffraction, scattering [MSC 2020] | |
| 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] | |
| 82D03 - Statistical mechanical studies in condensed matter (general) [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | Orbital Ordering |
| Resonant X-ray Scattering | |
| Scattering Transition Metal Oxides | |
| Strongly Correlated Electron Systems | |
| X-ray Diffraction | |
| X-ray Scattering Oxides | |
| Persona (resp. second.): | Ishihara, Sumio |
| Murakami, Youichi | |
| Titolo autorizzato: | Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0181016 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-662-53227-0 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Springer Tracts in Modern Physics Berlin [etc.] . -Springer ; 269