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Titolo: |
Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / Bert Voigtländer
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Pubblicazione: | Heidelberg, : Springer, 2015 |
Descrizione fisica: | XV, 382 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina: | 620.5(Nanotecnologia) |
621.39(Microingegneria) | |
620.1(Scienze dei materiali) | |
530.4(Fisica. Stati della materia) | |
Persona (resp. second.): | Voigtländer, Bert |
Titolo autorizzato: | Scanning Probe Microscopy ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN00242117 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | https://rd.springer.com/book/10.1007/978-3-662-45240-0 |
Opac: | Controlla la disponibilitĂ qui |