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Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements / Edward F. Vonesh, Vernon M. Chinchilli



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Autore: Vonesh, Edward F Visualizza persona
Titolo: Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements / Edward F. Vonesh, Vernon M. Chinchilli Visualizza cluster
Pubblicazione: New York [etc.] : Dekker, c1997
Descrizione fisica: xii, 560 p. ; 24 cm + 1 floppy disk
Disciplina: 519.72
Soggetto topico: Programmazione lineare
Altri autori: Chinchilli, Vernon M.  
ISBN: 0824782488
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 991000606929707536
Lo trovi qui: Univ. del Salento
Opac: Controlla la disponibilità qui
Serie: Statistics, textbooks and monographs