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2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan)



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Titolo: 2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan) Visualizza cluster
Pubblicazione: Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013
Descrizione fisica: 1 online resource (309 pages) : illustrations
Disciplina: 621.3815
Soggetto topico: Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers Circuits - Testing
Fault-tolerant computing
Altri titoli varianti: Test Symposium
Titolo autorizzato: 2013 22nd Asian Test Symposium  Visualizza cluster
ISBN: 0-7695-5080-0
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996280213103316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui