2007 International Symposium on VLSI Design, Automation & Test (VLSI-DAT) : April 25-27, 2007, Hsinchu, Taiwan / / Industrial Technology Research Institute, IEEE
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| Titolo: |
2007 International Symposium on VLSI Design, Automation & Test (VLSI-DAT) : April 25-27, 2007, Hsinchu, Taiwan / / Industrial Technology Research Institute, IEEE
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| Pubblicazione: | IEEE |
| Disciplina: | 621.39/5 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration |
| Titolo abbreviato (Periodici): | VLSI DESIGN, AUTOMATION & TEST, 2007 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON |
| VLSI DESIGN, AUTOMATION & TEST, 2007. VLSI-DAT 2007. INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON | |
| Altri titoli varianti: | Embedded Computing |
| 2007 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test | |
| 2007 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT) | |
| Titolo autorizzato: | 2007 International Symposium on VLSI Design, Automation & Test (VLSI-DAT) |
| ISBN: | 9781509085286 |
| 1509085289 | |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910143046803321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |