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| Titolo: |
X-Ray and Neutron Reflectivity : Principles and Applications / Jean Daillant, Alain Gibaud (Eds.)
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| Pubblicazione: | Berlin : Springer Verlag, c1999 |
| Descrizione fisica: | XXIII, 331 p. ; 24 cm |
| Disciplina: | 548 |
| Soggetto non controllato: | Cristallografia |
| Raggi x | |
| Persona (resp. second.): | Daillant, Jean |
| Gibaud, Alain | |
| Titolo autorizzato: | X-Ray and Neutron Reflectivity ![]() |
| ISBN: | 3-540-66195-6 |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990001439230403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Collocazione: | 37-042 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |