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ACM Sigmetrics international Conference on measurement and modeling of computer systems : proceedings : may 23-26, 1996 Philadelphia, Pennsylvania, USA



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Autore: ACM Sigmetrics International Conference on measurement and modeling of computer systems : <1996 Visualizza persona
Titolo: ACM Sigmetrics international Conference on measurement and modeling of computer systems : proceedings : may 23-26, 1996 Philadelphia, Pennsylvania, USA Visualizza cluster
Pubblicazione: New York : Association for computing machinery, ©1996
Descrizione fisica: XVII, 279 p. : ill. ; 28 cm
Disciplina: 004
Soggetto non controllato: Sistemi di computers
Titolo autorizzato: ACM Sigmetrics international Conference on measurement and modeling of computer systems  Visualizza cluster
ISBN: 0-89791-793-6
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 990000518260403321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Collocazione: 10 PRO 432
Opac: Controlla la disponibilità qui