Introduction to Quantum Metrology : The Revised SI System and Quantum Standards / Waldemar Nawrocki
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| Autore: |
Nawrocki, Waldemar
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| Titolo: |
Introduction to Quantum Metrology : The Revised SI System and Quantum Standards / Waldemar Nawrocki
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2019 |
| Titolo uniforme: | Wstęp do metrologii kwantowej |
| Edizione: | 2. ed |
| Descrizione fisica: | xiv, 326 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 81-XX - Quantum theory [MSC 2020] |
| 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | Atomic Clocks and Time Scales |
| High Accuracy Measurements | |
| High Resolution Measurements | |
| Interferometers and Measurements of Length | |
| Measures and Standards | |
| Quantum Metrology | |
| Quantum Standards | |
| Satellite Navigation Systems for Metrology | |
| Scanning Probe Microscopes | |
| The New SI System of Units | |
| Titolo autorizzato: | Wstęp do metrologii kwantowej |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0216122 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-030-19677-6 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |