Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer
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| Autore: |
Voigtländer, Bert
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| Titolo: |
Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2019 |
| Descrizione fisica: | XIV, 331 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica) |
| 530(Fisica) | |
| 502.82(Microscopia) | |
| 620.5(Nanotecnologia) | |
| 621.39(Microingegneria) | |
| 570.28(Microscopia biologica) | |
| Titolo autorizzato: | Atomic Force Microscopy |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0126214 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | /sebina/repository/catalogazione/documenti/377.pdf |
| https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-030-13654-3 | |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
NanoScience and Technology Berlin . -Springer , 1998-