Industrial X-Ray Computed Tomography / Simone Carmignato, Wim Dewulf, Richard Leach editors

• Pubblicazione: VII, 369 p., : ill. ; 24 cm
• Edizione: Cham : Springer, 2018
• Descrizione fisica: Pubblicazione in formato elettronico
• Disciplina: 621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata); 620.1(Scienza dei materiali); 523.019(Fisica molecolare, atomica, nucleare); 530.44(Fisica del plasma)
• Persona (resp. second.): Carmignato, Simone; Dewulf, Wim; Leach, Richard
• Titolo autorizzato: Industrial X-Ray Computed Tomography
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: SUN0124603
• Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
• Localizzazioni e accesso elettronico: https://link.springer.com/book/10.1007%2F978-3-319-59573-3#toc