VTS 2018 : 2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium : proceedings : April 22nd - 25th 2018, San Francisco, California (USA) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Titolo: |
VTS 2018 : 2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium : proceedings : April 22nd - 25th 2018, San Francisco, California (USA) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Pubblicazione: | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (619 pages) |
| Disciplina: | 621.395 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
| Titolo autorizzato: | VTS 2018 |
| ISBN: | 1-5386-3774-X |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 996280696203316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |