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Titolo: | ICMTS 1998 : proceedings of the 1998 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, March 23-26, 1998, Kanazawa, Japan |
Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1998 |
Disciplina: | 621.3815/48 |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Congresses - Testing |
Semiconductors - Congresses - Testing | |
Electronic apparatus and appliances - Testing - Congresses | |
Electrical & Computer Engineering | |
Electrical Engineering | |
Engineering & Applied Sciences | |
Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
Titolo autorizzato: | ICMTS 1998 : proceedings of the 1998 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, March 23-26, 1998, Kanazawa, Japan |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910872859203321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |