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Titolo: | Proceedings of Technical Program of ... International Symposium on VLSI Design, Automation and Test |
Pubblicazione: | Piscataway, NJ : , : IEEE |
Disciplina: | 621 |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction |
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing | |
Integrated circuits - Very large scale integration | |
Soggetto genere / forma: | Conference papers and proceedings. |
ISSN: | 2472-9124 |
Titolo abbreviato (Periodici): | Proc. Tech. Program Int. Symp. VLSI Des. Autom. Test |
Altri titoli varianti: | Proceedings of Technical Program of ... International Symposium on VLSI Design, Automation & Test |
VLSI-DAT .. | |
International Symposium on VLSI Design, Automation & Test | |
IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation & Test (VLSI-TSA-DAT) | |
Titolo autorizzato: | Proceedings of Technical Program of ... International Symposium on VLSI Design, Automation and Test |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Periodico |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910626138603321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |