IEEE design & test
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| Titolo: |
IEEE design & test
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| Pubblicazione: | New York, NY, : Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Disciplina: | 621 |
| Soggetto topico: | Computer engineering |
| Ordinateurs - Conception et construction | |
| Soggetto genere / forma: | Periodicals. |
| ISSN: | 2168-2364 |
| Note generali: | Refereed/Peer-reviewed |
| Titolo abbreviato (Periodici): | IEEE des. test |
| Altri titoli varianti: | IEEE design and test |
| Titolo autorizzato: | IEEE design & test |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910625176703321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |