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Titolo: | 1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubblicazione: | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2019 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (48 pages) |
Disciplina: | 621.381548 |
Soggetto topico: | Automatic test equipment |
Titolo autorizzato: | 1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 |
ISBN: | 1-5044-5975-X |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910336059603321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |