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Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow



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Autore: Hosmer, David W. Visualizza persona
Titolo: Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow Visualizza cluster
Pubblicazione: New York, : Wiley, 2000
Edizione: 2. ed
Descrizione fisica: XII, 373 p. ; 25 cm
Disciplina: 570.15195(Biostatistica. Biometria)
Altri autori: Lemeshow, Stanley  
Titolo autorizzato: Applied logistic regression  Visualizza cluster
ISBN: 04-7135-632-8
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: VAN0019858
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
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