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| Autore: |
Benediktovich, Andrei
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| Titolo: |
Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis : Theory and Applications / Andrei Benediktovich, Ilya Feranchuk, Alexander Ulyanenkov
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| Pubblicazione: | Berlin, : Springer, 2014 |
| Titolo uniforme: | Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis |
| Descrizione fisica: | xiii, 318 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 74-XX - Mechanics of deformable solids [MSC 2020] |
| 74F15 - Electromagnetic effects in solid mechanics [MSC 2020] | |
| 78A45 - Diffraction, scattering [MSC 2020] | |
| 78A55 - Technical applications of optics and electromagnetic theory [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | Dynamical theory of diffraction |
| Grazing-incidence diffraction | |
| Materials analysis | |
| Theory of X-ray diffraction in crystals | |
| X-ray Spectroscopy | |
| X-ray diffraction theory | |
| X-ray polarizability | |
| X-ray powder diffraction | |
| X-ray reflectivity | |
| X-ray theory | |
| Altri autori: |
Feranchuk, Ilya
Ulyanenkov, Alexander
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| Titolo autorizzato: | Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN00133122 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-642-38177-5 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |