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2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : S. Lake Tahoe, California, October 11-15, 2015



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Autore: Ryan Jason Visualizza persona
Titolo: 2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : S. Lake Tahoe, California, October 11-15, 2015 Visualizza cluster
Pubblicazione: New York : , : IEEE, , 2016
Descrizione fisica: 1 online resource (183 pages)
Disciplina: 621.3815
Soggetto topico: Integrated circuits - Reliability
Semiconductors - Reliability
Nota di contenuto: PLATFORM TECHNICAL PRESENTATIONS -- POSTER PRESENTATIONS-REFEREED -- POSTER PRESENTATIONS-OPEN -- Tutorials -- Discussion Group (DG) Summaries -- BIOGRAPHIES -- PICTURES.
Titolo autorizzato: 2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report  Visualizza cluster
ISBN: 1-4673-7396-6
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996280072303316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui