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Titolo: | Proceedings 1992 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 4-6 November 1992 |
Pubblicazione: | New York : , : IEEE, , 2002 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (296 pages) |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction |
Integrated circuits - Fault tolerance | |
Titolo autorizzato: | Proceedings 1992 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 996202639803316 |
Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |