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Proceedings 1992 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 4-6 November 1992



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Titolo: Proceedings 1992 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 4-6 November 1992 Visualizza cluster
Pubblicazione: New York : , : IEEE, , 2002
Descrizione fisica: 1 online resource (296 pages)
Soggetto topico: Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction
Integrated circuits - Fault tolerance
Titolo autorizzato: Proceedings 1992 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996202639803316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
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