1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Titolo: |
1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2019 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (48 pages) |
| Disciplina: | 621.381548 |
| Soggetto topico: | Automatic test equipment |
| Titolo autorizzato: | 1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 |
| ISBN: | 1-5044-5975-X |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910336059603321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |