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| Titolo: |
Electrothermal analysis of VLSI systems / Yi-Kan Cheng [et al.]
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| Pubblicazione: | Dordrecht ; Boston : Kluwer Academic, c2000 |
| Descrizione fisica: | XVIII, 210 p. : ill. ; 25 cm |
| Disciplina: | 621.39'5 |
| Soggetto non controllato: | Circuiti integrati - Modelli matematici |
| VLSI | |
| Semiconduttori - Proprietà termiche - Modelli matematici | |
| Persona (resp. second.): | Cheng, Yi-Kan |
| Titolo autorizzato: | Electrothermal analysis of VLSI systems ![]() |
| ISBN: | 0-7923-7861-X |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990000528930403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Collocazione: | 10 E II 587 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |