Advanced Transmission Electron Microscopy : Applications to Nanomaterials / editors Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal
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| Titolo: |
Advanced Transmission Electron Microscopy : Applications to Nanomaterials / editors Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2015 |
| Descrizione fisica: | XII, 272 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 620.5(Nanotecnologia) |
| 621.39(Microingegneria) | |
| 620.1(Scienze dei materiali) | |
| Persona (resp. second.): | Arenal, Raul |
| Deepak, Francis L. | |
| Mayoral, Alvaro | |
| Titolo autorizzato: | Advanced Transmission Electron Microscopy |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0242992 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://rd.springer.com/book/10.1007/978-3-319-15177-9 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |