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Titolo: | In-situ Materials Characterization : across Spatial and Temporal Scales / Alexander Ziegler … [et al.] editors] |
Pubblicazione: | Berlin, : Springer, 2014 |
Titolo uniforme: | In-situ Materials Characterization |
Descrizione fisica: | xi, 256 p. : ill. ; 24 cm |
Soggetto topico: | 82-XX - Statistical mechanics, structure of matter [MSC 2020] |
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] | |
82D80 - Statistical mechanical studies of nanostructures and nanoparticles [MSC 2020] | |
Soggetto non controllato: | In-situ characterization |
Material dynamics | |
Nanoanalysis | |
Nanoscale materials | |
Neutron Scattering | |
Photoelectron Spectroscopy | |
Scanning probe techniques | |
Structure-property | |
Ultra-fast analysis | |
X-ray Absorption Spectroscopy | |
Persona (resp. second.): | Ziegler, Alexander |
Titolo autorizzato: | In-situ Materials Characterization |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN0133235 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-642-45152-2 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |