Field Emission Scanning Electron Microscopy : New Perspectives for Materials Characterization / Nicolas Brodusch, Hendrix Demers, Raynald Gauvin
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| Autore: |
Brodusch, Nicolas
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| Titolo: |
Field Emission Scanning Electron Microscopy : New Perspectives for Materials Characterization / Nicolas Brodusch, Hendrix Demers, Raynald Gauvin
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| Pubblicazione: | XII, 137 p., : ill. ; 24 cm |
| Edizione: | Singapore : Springer, 2018 |
| Descrizione fisica: | Pubblicazione in formato elettronico |
| Disciplina: | 543.54(Spettroscopia molecolare) |
| 620.5(Nanotecnologia) | |
| 621.39(Microingegneria) | |
| 620.1(Scienza dei materiali) | |
| Altri autori: |
Demers, Hendrix
Gauvin, Raynald
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| Titolo autorizzato: | Field Emission Scanning Electron Microscopy |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | SUN0124813 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007%2F978-981-10-4433-5#toc |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
SpringerBriefs in applied sciences and technology Berlin . -Springer.