2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
|
| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource |
| Disciplina: | 621.381548 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Testing |
| Persona (resp. second.): | IEEE Staff |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | 2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
| ISBN: | 1-4244-5598-7 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910140653203321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |